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產(chǎn)品中心物理光學(xué)儀器測(cè)量?jī)x
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儀器介紹 橢圓偏振法測(cè)量的原理很早就已提出，相應(yīng)的測(cè)試方法和設(shè)備也不斷地被改進(jìn)和創(chuàng)新，使得橢圓偏振法成為重要的測(cè)試手段，并廣泛地應(yīng)用在光學(xué)、材料、生物、醫(yī)學(xué)等各個(gè)領(lǐng)域。其中測(cè)量薄膜材料的厚度、折射率和消光系數(shù)是橢圓偏振法基本和重要的應(yīng)用之一 。自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀
更新時(shí)間：2024-11-28
產(chǎn)品型號(hào)：SGC-2
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